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上海納騰儀器有限公司


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原位AFM in SEM

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產(chǎn)品型號(hào)LiteScope

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地上海

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更新時(shí)間：2025-01-12 13:00:31瀏覽次數(shù)：45次

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所在地區(qū)：

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

詳細(xì)介紹

LiteScope™是一種的掃描探針顯微鏡（SPM），便于集成到各種掃描電子顯微鏡（SEM）中?；パa(bǔ)SPM和SEM技術(shù)的結(jié)合（CPEM）可以進(jìn)行復(fù)雜的樣品分析，包括表面形貌、機(jī)械性能、電性能、化學(xué)成分、磁性等的表征。 還能與其他掃描電鏡附件相結(jié)合，如聚焦離子束（FIB）或氣體注入系統(tǒng)(GIS ）用于納米/微結(jié)構(gòu)的制備和表面改性可以對(duì)裝配結(jié)構(gòu)的快速和簡(jiǎn)單的3D檢查。 同時(shí)，SPM和SEM測(cè)量能夠在同一地點(diǎn)、同一時(shí)間、同一協(xié)調(diào)系統(tǒng)進(jìn)行。


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