afm原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖：10nm 力學常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215...

spm掃描探針技術參數(shù)：針尖：10nm 力學常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-2...

便攜式原子力顯微鏡可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數(shù)值測定與分析。

葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的多功能原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形...

葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡是一款專業(yè)級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結...

葛蘭帕NP-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop是一臺納米分析儀器，用于樣品表面粗糙度和樣品微尺度分析。主要應用包括工藝開發(fā)和技術樣品制作的過程控制。

原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖10nm 力學常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz）長度：225 um（215-235u...

spm掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理...

多功能掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構；同時可對...

AFM拉曼聯(lián)用系統(tǒng)可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數(shù)值測定與分析。

afm原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖：10nm 力學常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215...

spm掃描探針技術參數(shù)：針尖：10nm 力學常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-2...

便攜式原子力顯微鏡可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數(shù)值測定與分析。

葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的多功能原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形...

葛蘭帕國產(chǎn)版HR-AFM原子力顯微鏡是一款專業(yè)級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結...

葛蘭帕NP-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop是一臺納米分析儀器，用于樣品表面粗糙度和樣品微尺度分析。主要應用包括工藝開發(fā)和技術樣品制作的過程控制。

原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖10nm 力學常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz）長度：225 um（215-235u...

spm掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理...

多功能掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構；同時可對...

AFM拉曼聯(lián)用系統(tǒng)可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數(shù)值測定與分析。